现代集成电路制造业、数据存储工业和微机电系统等行业的不断发展，对纳米尺度线宽的测量提出了越来越高的要求。目前的一些测量方法分别存在各自的缺点与不足，在缺少更高准确度计量标准的情况下，往往采用比对的方法使计量结果趋于一致。国际计量局在1998年把纳米尺度线宽计量确定为纳米尺度基本特征国际关键比对项目之一。文章对它的主要研究内容以及进展情况作了介绍。

批量生产中用常用的三座标测量仪检测螺纹孔系位置度具有工期长费用高劳动强度大的缺点因此我们设计了一个综合检验用的孔系位置度测具经使用证明:该量具能够保证产品质量减轻员工的劳动强度使用操作方便快捷。对测量安全和测量过程作了介绍。

在对目前工业生产中检测零件极限尺寸时使用的量具的不利因素进行综合分析的基础上，提出了一种检测零件极限尺寸的新量具——极限千分尺，着重介绍了极限千分尺的结构、性能、技术指标及使用方法。

本文提出削边销(半边销)的结构形式,以其来代替"一面两销"中的削边销(菱形销),并通过对比设计计算分析,提出其中心距尺寸最大允许极限范围,用来解决实际生产中由于零件加工中定位孔中心距尺寸偏差较大引起的定位问题。

在机械加工工序设计中确定工序尺寸及公差时,经常会遇到工序基准或测量基准等与设计基准不重合的情况,此时工序尺寸的求解需要借助尺寸链。而应用最为广泛的极值法计算工序尺寸时,常常会出现一些问题,这些问题会使加工更困难,测量工具要更精密,也可能要增加量具的品种,甚至于出现假废品现象。这种工序尺寸计算合理正确与否,关系到产品的质量稳定、企业的经济效益,对提高产品质量,降低产品成本都有着很现实的意义。