在较大孔径放大系数（〉4）的情况下，结合实验结果，从拼接模式、被测面形、测量误差和不同孔径放大系数的角度出发，分析了各种因素对目标函数拼接技术精度的影响，为高精度检测和控制大口径光学元件表面面形（波前）提供了依据。