传统的X射线探伤仪由于采用直流光源,产生的剂量较大,长期使用对人损伤较大.介绍了由脉冲X射线源、记录系统和计算机组成的低剂量X射线探伤仪,它具有仪器剂量小,重量轻,成像质量高的特点.目前已应用到工业探伤领域.

描述了椭圆型晶体谱仪配X射线CCD相机的X射线谱测量系统（EBCS—XCCD），研究了CCD相机记录信号的解谱处理方法，推出了对实测原始谱曲线辨认或标识值的计算公式及激光等离子体辐射X射线在某一波长光谱强度的公式，使之应用在激光打靶产生的等离子体源辐射X射线谱的回推，辨认出了激光等离子体X射线源能谱，并与文献[1]的结果进行了比较，结果基本一致。测试结果证实了解谱方法的可行性，表明X射线CCD相机适用于椭圆型晶体谱仪的光谱测量记录。在已知晶体的积分反射率、滤片透射率和CCD探测效率的条件下，可以获得X射线源光谱强度，为下一步诊断激光等离子体的电子温度和离子密度的空间分布轮廓和进一步细化x射线激光研究奠定了基础。

描述了国内第一套ＥＸＡＦＳ实验系统，它使用了激光产生等离子体Ｘ射线源，比同步辐射强Ｘ射线源的亮度高、瞬时强度强、线度小、稳定性好，已用于瞬态物质分子结构的分析中。