针对新型磁探测电阻抗成像技术的正问题,利用有限元方法求解得到目标体内部的电压和电流密度分布,然后根据Biot-Savart定律获得目标体外部的磁感应强度数据,并且分析了有限元方法计算正问题的精度.结果表明,其足以用于磁探测电阻抗成像的电导率图像重建.在此基础上,通过仿真实验发现环形电极模式避免了电流的扩散效应,远离电极部分的z方向电流密度图像与电导率图像一致,以电流密度成像替代电导率成像,使得磁探测电阻抗成像简化为磁探测电流密度成像,缩短了数据测量时间和图像重建时间,为快速成像奠定了基础.

在体积CT系统上通过样本实验研究了平板探测器的校正问题.提出了一种基于统计模型的平板探测器校正方法,详细讨论了坏像素的探测、校正矩阵的生成和原始投影图像的校正方法.校正过程包括实时的模糊和图像滞后校正、图像的标准化、增益修正和坏像素点的校正.通过样本实验研究对所提出的校正算法进行了验证,通过比较重建图像的信噪比对该算法的效果进行了评估.研究结果表明平板探测器的制造缺陷等固有噪声源将在重建图像中被增强,并表现为大量的条纹和环形伪影;通过校正后,重建图像中的上述伪影明显减少,图像质量明显改善,且系统的低对比度探测能力也得到相应提高.