对数显卡尺测量爪尺寸偏差及影响测量精度诸因素进行了分析，对完善标准和检定规程提出建议。

用卡尺内量爪测量内圆尺寸时,由于内量爪错位（或称为侧隙）与测量部位的磨损造成测量轴线变宽等因素的存在,将影响内圆尺寸的测量准确度。笔者在对通用卡尺中的游标卡尺、数显卡尺、带表卡尺的计量检修工作中,针对上述因素的影响作了量化分析并提出控制方法,供大家参考。

在实际应用中出现的数显卡尺测量误差是由定栅误差和卡尺本身制造误差（零件的形状和位置误差）、使用引起的误差（测量力引起的误差、不准确的测量引起的误差）以及其它各种偶然原因导致的误差影响的。

介绍了容栅定栅母板的光刻原理、光刻设备及工艺流程.

阐述了数显卡尺容栅检查仪的工作原理，并对几种检测用基准传感器的选取进行了对比分析，提出了结构设计中应注意的问题。

介绍了数显卡尺的工作原理和数显卡尺现有的接口技术及接口电路．并以此为基础提出了新的接口电路的设计思想。