现代集成电路制造业、数据存储工业和微机电系统等行业的不断发展，对纳米尺度线宽的测量提出了越来越高的要求。目前的一些测量方法分别存在各自的缺点与不足，在缺少更高准确度计量标准的情况下，往往采用比对的方法使计量结果趋于一致。国际计量局在1998年把纳米尺度线宽计量确定为纳米尺度基本特征国际关键比对项目之一。文章对它的主要研究内容以及进展情况作了介绍。

采用发光二极管（LED）点阵模块构成的电子显示屏已经越来越广泛地应用于生产、生活、公共场所等各个方面。用于小型公示场所的电子显示屏是规模最小的一种。设计这类电子显示屏的原则是，在满足显示要求的前提下，尽量节省投入，缩短开发周期，以降低成本。而正确选择、设计异步式LED电子显示屏的数据存储和处理方案，是设计这类电子显示屏的关键。

在测量、控制等领域的嵌入式系统应用中，常要求系统内部和外部数据存储器(RAM)中的数据在电源掉电时不丢失，重新加电时RAM中的数据能够保存完好[1]，以保证系统稳定、可靠地工作和数据信息处理的安全。这就要求对系统加接掉电保护措施。掉电保护可采用以下三种方法：

本文介绍了一种利用串行外设接口（SPI）为SOC单片机C8051F020扩展大容量数据存储器的设计方案．并给出来软件流程图和示例。该方案充分利用了SH的功能，在极少地占用单片机引脚的情况下，实现了数据存储器的扩展。

介绍了单片机双CPU构成复杂系统的电路以及该系统的几种应用实例.