从射线衰减方程出发,推导了曝光曲线计算方法,并与曲线拟合方法得到的公式进行比较,两者结果相近.再用一台在役X射线探伤仪曝光曲线与计算法所得结果比较,误差较小,印证了该计算方法的可行性.在此基础上,给出现场射线探伤工件厚度变化时曝光量的估算方法.曝光曲线计算法大大减少了常规制作曝光量曲线的工作量,并对现场射线探伤有一定的指导意义.

当需要对工件进行准确曝光时，通常需要用阶梯试块测定射线机参数，绘制曝光曲线。实际工作中大多采用一些经验公式设置曝光参数，经验公式通常只有板厚与电压两个参数，当改变参数（如曝光量和黑度等）时，相应经验公式就不再适用，必须更换公式。为避免这种低效而繁琐的工作，必须要有一套包含板厚、电压和电流等多元参数的公式。

基于非晶硅面阵探测器，以像质计（Image Quality Indicator，IQI）灵敏度达到成像质量最高级B级，研究了IQI灵敏度各制约参数并进行优化．基于优化理论和试验数据，以被检测物体的等效钢厚为自变量，将各制约参数的最优值集为一曲线，为数字射线成像（Digital Radiography，DR）检测提供有效的工艺参数．

按照JB/T 47302005标准[1](以下简称标准),小径管为外径D0100 mm的管道,为保证特种设备行业的使用安全,需要采用适当的方法对其进行检验。目前国内多采用射线透照的方法。笔者以下探讨如何制作与应用考虑透照厚度宽 容度的曝光曲线,以提高薄壁小径管(壁厚T8 mm且T/D00.12)环向对接接头的射线检测灵敏度。

小径管环焊缝X射线探伤,使用曝光曲线选取的曝光参数,由于多种原因致使误差较大.使用X射线曝光方程式,选取曝光参数,对X射线探伤灵敏度厚度宽容度及底片黑度的控制,起到了良好的效果.

本文介绍了使用阶梯试块来制作X射线曝光曲线的原理及具体操作步骤,并重点介绍使用微机作图来绘制曝光曲线的方法,同时对曝光曲线在电力建设射线检验中的应用作了阐述和论证。

介绍使用阶梯试块来制作X射线曝光曲线的原理及具体操作步骤,并重点介绍了使用微机作图来绘制曝光曲线的方法.