根据γ能谱仪系统的线性叠加性,提出一种基于全局优化算法—模拟退火算法的γ能谱全谱定量分析方法。通过引入谱漂移校正参数,实现了谱漂移的软件校正。对模拟γ能谱的分析误差小于2%。对标准环境样品中226Ra2、32Th及40K的分析误差均小于10%。对方法的定量分析下限和能量分辨率进行了深入研究。结果表明,该方法具有较低的定量分析下限,并且定量分析下限只与相关核素γ射线的总强度直接有关,分析精度几乎不受重叠峰的影响。