X射线照相缺陷定位方法分析与验证
文摘相对于公式法,双标记法解决了焦距和焦点位移测量误差所带来的问题。但此方法在射线检测领域普及程度并不高,其中原因,首先是原理较复杂,针对性研究少,其次是测量精度没有被量化,可信度不高。本文从公式法入手,通过对原理公式的变化分析和线性化分析,明晰了双标记法缺陷深度定位原理,推导了缺陷深度定位公式,利用简化模型,对双标记法的定位精度做了进一步的分析与计算,最后针对具体,~,P-a-测物,测试验证了双标记法的计算公式和测量精度,用理论和实践证明了方法和精度的可靠性。关键词X射线,缺陷深度,定位精度
机械扫描系统对工业CT系统空间分辨率的影响
工业计算机层析X射线技术(CT)能准确再现物体内部的三维立体结构,定量提供物体内部的物理特性,是目前最有效、可靠的无损检测手段和质量评价方法之一.工业CT系统的空间分辨率定量表示能分辨两个细节特征的最小间隔,机械扫描系统的运动精度是影响它的一个重要因素.从理论和实践角度论述了机械扫描系统运动精度对工业CT系统空间分辨率的影响以及如何从机械扫描系统运动精度的角度保证工业CT系统的空间分辨率.
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