本文介绍一种简便的薄膜厚度测量方法.可在普通的光切显微镜上,利用光切原理测量薄膜厚度.能测量0.8～80微米的薄膜厚度.

本文介绍了锁相环（ＰＬＬ）的倍频细分电路，重点讨论了测量及测量稳定时间的问题，并针对这两个问题详细介绍了锁相环路的设计方法。