某密封器件内部颗粒物分析

简介

多余物是影响密封器件可靠性的关键因素之一,针对密封器件开封引入多余物和生产工艺产生颗粒物不易分辨的问题,在前期进行的某储能焊封装工艺密封器件X射线检查和PIND试验样本中,按照4种不同组合的试验结果各抽取5只样品进行开封及后续内部目检验证与扫描电镜能谱分析。结果表明,颗粒物的成分为光滑、熔融形态的Sn、Pb或Fe、Cr、Ni。实验发现一种特殊情况:X射线检查和PIND试验合格的一只样品开封后存在光滑、熔融形态Fe、Cr、Ni成分的颗粒物,由于开封引入的多余物一般是与外壳成分相同并且表面有明显的划痕和剪切纹理的物质,故排除开封引入多余物的可能,经过验证确定其位于特殊位置且固定,而开封剪边过程形变产生的应力使其脱离固定位置而成为可动多余物,该情况容易造成内部目检结果误判。分析结果可以提升颗粒物来源分析水平,从而保障检测结论具有一定的参考价值。