针对偏光干涉法测量晶体光轴倾角存在精度低、范围小的缺点，提出了用相对光轴出露点的条纹数而不是距离来决定光轴倾角。将条纹数分为整数部分和小数部分，用非线性插值方法求解小数部分，用主截面内干涉条纹的相对位置决定整数部分。对6块铌酸锂晶体在不同单色光源、不同数值孔径下进行测量，结果相当一致。实验表明，光轴倾角的测量范围可有效拓宽，而测量误差可减小到0．1^o。