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元器件老化和存储器老化测试系统
作者:
蔡杰
来源:
中国科技信息
日期: 2022-09-21
人气:2
为减少元器件在高速测试设备上的测试时间,采用在元器件老化的同时进行功能测试的方法,降低了测试成本.同时介绍国外存储器老化测试系统的种类和性能,及影响测试系统的整体性能的诸多因素.
关键词:
测试系统
元器件
老化
测试时间
测试设备
功能测试
测试成本
外存储器
整体性能
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