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双管显微镜测量表面粗糙度评定参数的处理程序设计

作者: 蒋大文 王志远 谢驰 王晓辉 杨大磊 来源:四川大学学报(工程科学版) 日期: 2023-02-01 人气:3
双管显微镜测量表面粗糙度评定参数的处理程序设计
介绍了用双管显微镜测量轮廓线坐标值的方法,同时,设计了计算表面粗糙度六个评定参数的微机处理程序.从而,扩大了只用于测量单参数的表面粗糙度检查仪的使用功能,以满足表面粗糙度国家标准所规定的评定参数的要求.还给出了程序流程图.实验表明,该方法具有精度高和速度快的优点.
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