2009年3月，德国Wunstorf和GE传感与检测科技的菲尼克斯X射线（phoenix｜x—ray）家族推出了v｜tomel｜xL300工业CT系统，这是全球第一款可以通过300kVX射线管获得1μm分辨率的CT系统，若采用温度稳定的GE数字平板探测器，可获得更高对比分辨力，对于因结构复杂而不能使用光学或坐标测量机检测的部件，