微光电子的重要技术-近场扫描光学显微技术
微光电子的重要技术──近场扫描光学显微技术近场扫描光学显微技术(near—fieldscanningopticalmicroscopy,NSOM)是由美国AT&TBell实验室从九十年代开发,用于在数微米面积内工作的一种新型光学观察技术。在此之前,光...
光学显微三维成像特性的实验研究
者 张平 吴震 向际鹰 史国水 《华中科技大学学报:自然科学版》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第S1期
讨论了激光共焦扫描显微镜的三维超分辨率成像特性 ,通过实验论证了在理论分析上所具有的三维超分辨率成像特性 .理论分析和实验结果表明这种新的显微系统可以成高分辨率的二维层析图像并重构成三维图像 .
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