针对用子孔径干涉像差修正拼接法测量非球面的拼接精度问题，提出了一种基于t分布统计的拼接精度分析评定方法。根据测量原理及拼接模型特点，利用残差分析对模型进行回归诊断，使用因变量预测算法和t分布统计模型对拼接精度进行估计与分析。实验结果显示：按t分布评定拼接结果的扩展不确定度为0．3623λ（0．229μm），而常规的系统误差检验方法评定拼接结果的扩展不确定度为0．234μm，两种方法结果基本一致，表明基于t分布统计的方法在保证评定结果准确度的前提下，克服了比较分析法的不确定性，解决了正态分布统计法中置信系数k不能反映子样标准差可靠性对置信概率的影响问题。

详细地讨论了分析测试数据的统计规律及ｔ分布、ｔ检验。介绍了如何采用ｔ检验对密立根油滴仪性能进行检验。