扫描式激光测径技术的算法新探
为了提高激光扫描测径技术的测量精度和测量稳定性,在研究了传统的激光扫描法测径的原理和算法后,提出了一种激光扫描测径的新算法。新算法充分利用了扫描光路的几何关系和数值计算技术。在产品生产过程中,新算法的应用提高了测量精度,降低了产品成本。
二元平场透镜
讨论二元平场透镜的光学特性和象差。这种透镜不引入光焦度,当物体们我限远处孔径光阑与透镜重合时,不产生初级球差、彗差、轴用和轴外色差,但是它对场曲、畸变和轴上色差有贡献。给上用于校正双胶爱镜组的场曲的二元透镜实例。计算结果表明,二元透镜在平场光学系统中具有实用价值。
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