在原子力显微镜（atomic force microscope，AFM）原位定位观察中，时常会遇到因失去标记物而无法定位的情况。本文介绍了一种在表面标记物被覆盖后，运用原子力显微镜的操纵功能，将标记物上的覆盖物“扫”开，重新找到标记物并用于精确定位的方法。以对高序热解石墨（highly ordered pyrolytic graphite，HOPG）表面牛血清白蛋白（bovine serum albumin，BSA）吸附的原位观察为例，在BSA膜覆盖HOPG表面的原子台阶后．采用接触模式AFM扫描，将BSA“扫”开，露出HOPG原子台阶作为标记，对图像上的结构进行精确定位。通过调节设置点、扫描范围、扫描速率、扫描线数、偏置值等戍像参数及扫描时间，可以控制“清扫”的力度和范围。