电子错位散斑与全息干涉法测量离面位移
本文把电子错位散斑干涉和全息干涉两种现代光测技术用于同一力学问题,对离面位移进行了定量测试,并对这两种技术测量高面位移进行了比较.
图像相关方法中采用多种子区进行位移测量
在图像相关位移测量方法中一般采用正方型子区搜索中心点的位移.当测量靠近裂纹或缺陷部位的位移时中心型子区失去效果,为了解决这一问题提出了非中心型子区的方法.证明了方法的有效性.认为在相关搜索时测量点既可选定在子区的中心位置,也可选定在非中心位置.进而提出了将测量点确定在子区角点的多种子区的方法.除通常的中心型子区外,至少还有4种子区可以采用,分别是右下角型、左下角型、右上角型和左上角型,这4种子区不但适用于表面裂纹或缺陷部位的位移测量,而且增加了图像有效信息的提取面积.
利用神经网络实现界面缺陷的智能辨识
通过对数学散斑条纹的分析与处理,找出了能代表条纹信息的移位不变与旋转不变特征值——最大斜率,进而构造一种新的网络模型,即单步前馈式三层网络系统.率先实现了把神经网络系统用在数字散斑无损检测之中,完成了神经网络系统对粘接界面缺陷的智能辨识.
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