采用梯度折射率(GRIN)透镜干涉仪，对用加热、切割和研磨三种方法获得的平面光纤端面进行质量检测，得到反映端面不同平整度的干涉图样。实验结果表明，GRIN透镜干涉仪结构简单，操作方便，可作为定性和定量检测光纤端面质量的一种新工具。

描述了制作扫描近场光学显微镜光纤探针的两种简便有效的方法－－带保护层的化学腐蚀法和光纤熔接机拉锥法，从实验中比较、分析了两种制作方法的优缺点，实验表明这两种方法均能制作出针尖直径为５０ｎｍ左右的光纤探针。