本文对影响X荧光镀层厚度测量的测量条件（准直器、测量时间、测量程式、镜头对焦方式）和测量方法（有无标准片校准及不同校准方法）进行分析并分组实验,通过对测量结果的研究以选择合适的测量条件和测量方法来提高X荧光镀层厚度测量的准确性和可靠性。

该文对可用于测量动态角度量的测角方法进行研究并追踪其研究进展，主要介绍了激光干涉法、莫尔条纹法、基于PSD的测角法以及基于CCD图像处理和计算机视觉技术的动态角测量方法，阐述了各方法的测量原理，并分析了其优缺点和使用场合，最后针对动态大范围角度量的实时测量给出探讨性的意见。