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薄膜X射线测厚仪

作者: 靳其兵 江晶 来源:仪表技术与传感器 日期: 2023-05-10 人气:15
薄膜X射线测厚仪
介绍了以西门子PLC(可编程控制器)用于薄膜测厚的全自动往复式X射线测厚仪的研制,介绍了该测厚仪的硬件构成和测厚的工作原理. 该装置已成功应用在双向拉伸聚丙烯薄膜生产线上.
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