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薄膜X射线测厚仪
作者:
靳其兵
江晶
来源:
仪表技术与传感器
日期: 2023-05-10
人气:15
介绍了以西门子PLC(可编程控制器)用于薄膜测厚的全自动往复式X射线测厚仪的研制,介绍了该测厚仪的硬件构成和测厚的工作原理. 该装置已成功应用在双向拉伸聚丙烯薄膜生产线上.
关键词:
测厚仪
X射线
薄膜
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