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楔条形阳极光子计数探测器成像性能的检测

作者: 何玲平 尼启良 李敏 刘世界 陈波 来源:光学精密工程 日期: 2024-01-30 人气:12
楔条形阳极光子计数探测器成像性能的检测
基于楔条形位置灵敏阳极的光子计数成像探测器能够记录入射的单光子或带电粒子位置信息,因而能够在极低的照明条件下实现目标的二维成像。本文研制了一套WSA光子计数成像探测器样机,介绍了它的设计结构及工作原理;分析了这类探测器的图像畸变产生的原因,提出了校正图像畸变的方法,并得到了无畸变的图像。以美国空军标准分辨率检测板(USAF1951)为目标进行了分辨率检测,采集的检测图像显示人的裸眼能分辨出检测板的第2组第6单元条纹。最后,为了消除人眼观测的主观性,通过计算探测器对该单元条纹的成像调制度来确保检测结果的准确性。计算结果显示探测器对该单元条纹的水平、垂直方向成像调制度分别为57%和37%。这一结果表明研制的探测器完全能够分辨该单元条纹,对应的分辨率为7.13lp/mm,即探测器空间分辨率达到了0.14mm。

30.4nm正入射成像系统滤光片

作者: 王丽辉 何玲平 王孝坤 尼启良 陈波 来源:光学精密工程 日期: 2023-08-18 人气:8
30.4nm正入射成像系统滤光片
多层膜反射镜是30.4nm正入射望远镜的主要反射元件,但它在紫外、可见和近红外光波段也具有很高的反射率,需要滤光片来消除这些长波辐射,而滤光片材料和膜层厚度对滤光片的性能起重要作用。根据原子散射因子,理论计算出几种材料波长和线性吸收系数之间的关系,确认铝足30.4nm波段滤光片的最好材料。在考虑透过率和膜强度的基础上,确定了滤光片的膜层厚度。改进了现有的由Mcpherson247掠入射软X射线-真空紫外单色仪和气体空心阴极光源组成的光谱测量装置,使其适合于透过率的测昔,其波长扫描精度为±0.017~±0.097nm,对所制备的铝滤光片进行25.6~1000nm波段的透过率测量,测量结果显示其在30.4nm处的透过率为58.85%。为了比较全面地反映该种滤光片的透过率情况,又测量了它在紫外、可见和近红外波段的透过率,其值接近零,...
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