本文介绍光切显微镜数显化.通过CCD摄像光学系统接收视频图像,利用VC++实现图像的开关、保存,应用Matlab把接收到的图像进行分析处理,并完成Ra、Rz、Ry参数计算,实现自动测量.

本文介绍一种简便的薄膜厚度测量方法.可在普通的光切显微镜上,利用光切原理测量薄膜厚度.能测量0.8～80微米的薄膜厚度.

光切显微镜是精密的计量仪器,可测量R0.8~100μm的粗糙度。它所用光切法原理,就是利用一狭窄的扁平光束以一定的倾斜度投射到被测表面上,光束在被测表面上发生反射出来的表面微观不平度,在光束方向上用显微镜来观测。在仪器测量前,应先用标准尺对仪器进行定度,再将被测件放入物镜下,使被测的粗糙度成像在视场中,再按要求进行粗糙度的测量。整个方法复杂并且眼睛易疲劳,为了提高测量精度,实现光切显微镜测量的数显化,我们尝试改造现有的光切显微镜,在保留目测的前提下,在原照相系统中接收图像信号,选用面振CCD来接收二维图像信号,通过面振CCD光电转换和存储过程,输出视频信号,并进行信号实时处理。实现数显化,简化整个测量结果,提高工作效率。

为了提高对外径千分尺刻度识别的准确性,设计了适合工业相机拍摄的照明系统。分析了照明光源影响因素,设计了环形光源和圆顶光源。利用Tracepro进行仿真实验,在环形光源和圆顶光源照射下均匀性分别为72.2%和74.6%。确定照明系统参数,并对照明系统进行了实物验证,确定了最佳照明系统。设计的照明系统能清晰地照亮千分尺的示值面,有利于捕捉到高质量的图像,提高刻度识别的准确性。

以新松SR04C工业机器人为对象,提出了一种利用激光位移传感器和标准样板结合的方法对工业机器人末端位置进行定位,检测系统主要由激光位移传感器和标准样板组成。利用API软件对实验结果进行验证,结果表明:经过标定后的工业机器人绝对定位精度有了明显的改善。