良好的测试性是舰船装备具有可保障性和战备完好性,能够持续发挥装备效能的重要前提。然而对于提高测试性水平,一方面提高了装备可用性和装备使用过程中的测试经济性,另一方面也增加了测试性设计费用和技术风险,因此要通过测试性规划确定合理的测试性指标,使装备具有可满足各方面要求的测试性水平。在系统稳态可用度模型和测试经济性模型的基础上,建立了以降低全寿命周期测试费用为目标,以稳态可用度、技术风险为约束的测试性规划模型。实例演示了基于遗传算法（GA）的模型求解方法,验证了模型的有效性。