凸缘边变形对O形圈密封的影响
通过对凸缘边变形和泄漏率的试验 。
原子氧及紫外线对O形圈泄漏率影响的研究
运用地面模拟设备对硅橡胶材料O形圈进行了原子氧暴露、紫外线辐射实验研究 ;利用测压法进行了O形圈在原子氧暴露及紫外线辐射前后的泄漏率比对实验 ,并对实验前后O形圈进行了扫描电镜分析。实验表明
O形圈密封载荷衰减研究
对两种硅橡胶材料O形圈的载荷衰减规律进行了试验研究 ,结果发现 ,O形圈的载荷衰减规律与O形圈材料的性能有关 ;温度对O形圈的衰减规律也有很大影响 ,温度越高 ,O形圈的载荷衰减速度越快 .在试验的基础上对O形圈载荷衰减的理论模型进行了研究 ,采用无穷多个Maxwell模型并联的方式 ,找到了一个能较好地表示O形圈载荷衰减规律的模型 .
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