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基于原子力显微镜的微桥机械特性测量

作者: 郑显义 陈环 傅刚 曾荣耀 丁喜冬 来源:半导体技术 日期: 2023-02-10 人气:1
基于原子力显微镜的微桥机械特性测量
研究了基于原子力显微镜(AFM)的微桥机械特性的测量方法。通过微机电系统(MEMS)技术制备了可用静电力驱动进行机械振动的金属微桥。利用一套改进的商用AFM实验装置对测量方法进行了优化,并对微桥的共振频率进行了测量,所得实验结果与理论估算和仿真计算的结果基本一致。基于AFM的微桥机械特性的测量具有精度高和容易实现的特点,可作为测量平台扩展用于薄膜材料或微量液体的内耗、粘弹等性质的表征。
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