X射线能谱分析的新进展
伴随着计算机技术的迅速发展,在近15年中x射线能谱仪及其分析方法突飞猛进。从1984年开始第三代的能谱仪间世,虽然它不仅可从事微区元素分析,而且可以进行图像处理和图象分析,成为发展最快使用最广的微区分析仪器。但是在超轻元素的分析、对谱线重叠的元素的定性分析、图像处理和图像分析的功能和速度方面还存在一系列间题有待改进。
从历届北京分析测试学术报告和展览会(BCEIA)看X射线能谱仪的现状和发展趋势
1984年本文作者在参加了匹兹堡会议以后,曾在本刊发表的文章中预测x射线能谱仪已经进入了一个新的发展阶段。除了元素分析以外,能谱仪将不断地开发新的综合的显微分析功能,而图象处理和图象分析是其一个主要方面。
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