本文针对相位型光栅的面形测量，用最小二乘法做二次曲线拟合，解决了ＣＣＤ光学干涉计量中像素尺寸以及图像采集卡空间量化误差对测量精度的影响，使干涉条纹定位精度提高一数量级以上。对曲线拟合误差进行了讨论，给出了实测结果。