显微镜的发展及在长度计量中的应用
自16世纪末第一台显微镜发明以来,显微技术一直是人们探寻和研究微观世界的有力助手,特别是计算机和激光器的问世更为古老的显微技术注入了新的生命力。几个世纪中,显微镜从过去传统的光学显微镜逐渐向深度和广度发展,形成了以不同照明光源和成像原理为区别的一个庞大的显微镜家族,如光学显微镜、干涉显微镜、电子显微镜和扫描探针显微镜等。
用于纳米级三维表面形貌及微小尺寸测量的原子力显微镜
SPM是在纳米尺度上进行测量的重要的测量仪器之一,随着SPM进入工业测量领域,SPM的校准、量值溯源和测量不确定度分析已经成为SPM能够作为计量仪器使用的关键所在.文章论述了一种计量型原子力显微镜的构成、校准以及在国际比对中的应用.
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