用特征矩阵法研究了多腔薄膜梳状滤波器在C波段的偏振特性。结果表明，当入射角较小时，s偏振光和p偏振光有相同或相近的透射特性；当入射角较大时，可以使透射光成为完全的p偏振光，而且在入射角发生很小的变化时，可以使p偏振光通带的中心波长的透射率发生很大的变化；当入射角很大后，s偏振光的透射峰比p偏振光的透射峰的变化快很多。研究表明，多腔薄膜梳状滤波器可以在与偏振和微小的角度变化有关的领域中发挥重要作用。

提出用一维缺陷光子晶体来测量角度特别是小的角度变化的设计方案。用Si薄膜和SiO2薄膜组成一维缺陷光子晶体，用特征矩阵法研究该光子晶体的禁带中的缺陷模的波长和强度随入射角缓慢变化而变化的规律，由此提出根据缺陷模的波长、强度、偏振性与入射角的关系进行角度测量的原理。本设计特别适用于极小的角度变化的测量。