X光转换屏的强度 -谱线曲线对闪光照相具有重要意义。本实验对 4号高能 X光转换屏在 X光照射下所发荧光光谱作了分析 ,文中给出了谱线图 ,以及扫描出的强度 -谱线曲线 ,并对实验结果作了分析

为了研究大口径反射镜的面形，在广泛调研大口径反射镜应力控制技术的基础上，从理论模型和实验两个方面同时进行。利用ANSYS建立大口径反射镜模型，得到其重力作用下的形变和受力面积变化的DPV-S关系曲线。建立了反射镜面形变化实验验证平台，对垂直放置的反射镜在不同方向上加力，利用干涉仪实测上侧面加压和背部支撑时的形变。实验验证了理论模拟结果，二者相差仅仅0．002μm-0．122μm。结果表明，这对今后进行类似的实验研究提供了值得借鉴的面形检测方法，为寻求优化的大口径反射面形控制装校方案奠定了基础。