针对MOSFET散粒噪声难以测量的特点,提出了一种低温散粒噪声测试方法。在屏蔽环境下,将被测器件置于低温装置内,有效抑制了外界电磁波和热噪声的干扰,采用背景噪声足够低的放大器以及偏置器、适配器等,建立低温散粒噪声测试系统。应用本系统对短沟道MOSFET器件进行噪声测试,分析该器件散粒噪声的特性。

为了解决高频直缝焊管内毛刺清除不完全的问题,提出了一种可以在生产线通径机上安装使用的简易内毛刺磨削清除装置。该装置可对生产线上任意规格的钢管进行内毛刺磨削清除,并对磨削时产生的粉尘进行过滤除尘。若生产工艺需要,也可将磨削装置快速拆除,恢复设备的通径检测功能。生产实践证明,该内毛刺磨削清除装置操作简便可靠,使用效果良好,在提高内毛刺清除效果的基础上,扩大了设备功能,提高了设备的利用率。