JWH-1A型晶体管涡流测厚仪主要用来测最铝及其合金材料的氧化膜厚度，也能测蟹其他非磁性金属表面的绝缘层厚度。它的测量范围及精度:0~50士1.5微米;0~100士3微米。可测最小外径小8毫米，最小内孔小20毫米。JWH-1A型涡流厕厚仪是在我所过去生产的WH-1型测厚仪的基础上改进制成，前者不同于后者的是:前者有一个气压式的内孔探头，能测内孔膜厚，采用电池供电的晶体管电路，较轻便，后者则没有内孔探头，采用市电供电的电子管电路，较笨重些。

目的对比不同类型磁性磨粒的光整加工效果,找出加工效果较优的磁性磨粒以提高非磁性外圆表面的光整加工质量。方法以6061铝合金管为研究对象,在相同条件下采用不同类型的磁性磨粒进行光整加工实验。采用粗糙度测量仪测试试件加工前后粗糙度值的变化。使用电子天平测试试件加工前后的质量变化,得出不同类型磁性磨粒加工的材料去除率（MRR）。运用超景深显微镜观测试件加工前后的形貌变化,进一步对比不同类型磁性磨粒光整加工的效果。结果采用粘结法磁性磨粒光整加工时,Ra值从初始的0.326μm减小到0.286μm,Rz值从初始的2.34μm减小到1.95μm,MRR为0.26μm/min。采用简单混合磁性磨粒光整加工时,Ra值从初始的0.346μm减小到0.303μm,Rz值从初始的2.42μm减小到2.09μm,MRR为0.195μm/min。采用粘弹性磁性磨粒光整加工时,6 min后达到加工极限,Ra值从初始的0.332μm减小...