介绍了一种基于Labview的消光式椭偏仪光学测量系统，用于进行透明薄膜厚度的精确测量。研究并推导出消光式椭偏仪光学系统的数学模型及椭偏参数的计算公式。在理论研究的基础上，基于虚拟仪器设计技术，开发了信号采集、传输电路和编写测量软件，设计了椭偏仪的自动控制测量系统。通过对SiO2薄膜的测试，验证了仪器具有良好的可靠性和重复性，薄膜厚度误差小于100A，折射率误差小于0．01。

在详细研究现有多波长消光测粒的基础上，分析了各个波长下各透射光强之间的内在联系，并提出消光测粒在具体中的一种新的改进方法。

　分析了目前验收脉冲激光测距机测程指标所采用的方法——“消光法”存在的不足,并在“消光法”的基础上,通过采用计算机技术、准激光技术和延时模拟空间距离的方法,实现了测程指标自动、快速和不解体检测。

应用基于多波长消光法原理发展的光学探针，测量了跨声速风洞中不同马赫数湿空气流自发凝结形成的水滴尺雨及浓度，并给出了实验结果。