在调研静态随机访问存储器型现场可编程门阵列（FPGA）器件空间辐照效应失效机理的基础上，详细论述FPGA辐照效应测试系统内部存储器测试、功能测试及功耗测试的实现原理，给出了系统的软硬件实现方法。所建立的系统可以测试FPGA器件的配置存储器翻转截面、块存储器翻转截面、功能失效截面、闭锁截面等多个参数，其长线传输距离达到50m以上，最大可测门数达到了100万门，为FPGA辐照效应研究提供了测试平台。