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基于光栅检测的显微镜闭环扫描控制系统的设计

作者: 吴耀春 萧泽新 来源:光学与光电技术 日期: 2023-03-06 人气:2
基于光栅检测的显微镜闭环扫描控制系统的设计
高精度扫描控制系统是现代扫描显微系统的重要组成部分,它影响着扫描显微镜对样品的扫描成像质量。提出了一种基于光栅检测的单片机闭环扫描控制系统的设计方案。该系统采用PC上位机发送指令,下位单片机控制扫描工作台的移动,光栅作为检测元件输出脉冲信号。单片机控制电路实现脉冲的计数并计算误差值,控制步进电机进行误差补偿。步进电机的硬件细分驱动,实现了步距2细分、4细分、8细分。实验结果表明该系统的重复定位精度达到0.005mm,满足扫描显微镜对扫描控制系统的要求。
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