HT-7装置首次超导调试过程中的残气质谱分析
本文给出MX7304A单极质谱计在HT-7装置首次低温超导调试过程中的应用。介绍进行残气质谱分析的目的,方法和采用的差分抽气质谱分析系统;给出装置调诗过程中常温和低温状态下残气谱图;根据残气成分的分析和真空状况。并利用质谱分析系统作了检漏手段。
微波干涉测量电子密度在SUNIST装置上的应用
微波在等离子体中传播时,相位会发生变化,通过相位的测量可以获取实时电子密度信息。这是微波诊断装置SUNIST托卡马克装置的首次使用,已经可以测量出放电过程中的电子密度曲线,测量范围在大约10^16~10^18(m^-3单位)。
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