利用相关拼接技术测量表面面形,可以用较小的测量口径实现较大面积表面面形的测量,并同时保持高的测量精度、高的空间分辨率和系统的低成本.在这项技术中,模型的建立和求解至关重要.本文针对一般模型建立和求解过程中的问题,提出了基于最小二乘迭代的求解方法.该方法不但考虑了高度信息的变化,而且全面考虑了在一般模型求解中简化的x,y方向上参数的影响.本文通过模拟仿真对求解方法进行了验证.