为提高工业CT中的图像质量,提出了一种校正X射线多色性产生的硬化现象的方法.该方法利用多色系统参数,将多色投影数据通过多项式运算转化为单色投影数据.定义了多色系统参数,证明了该参数在中能量段(0.3～5.0 MeV), 中低原子序数物质条件下,近似与被扫描物体无关的性质,并给出了获得该参数的方法.用该方法对模拟截面进行了硬化校正数字模拟实验.校正结果和真实值符合的很好.与现有的硬化校正方法相比,该方法不需进行迭代,不需要准确的先验知识,校正速度快和应用灵活是其主要优势.