动态随机存储器是嵌入式系统的一个重要组成部分，而动态随机存储器故障是嵌入式系统故障的一个主要原因之一。在此从动态随机存储器的结构和失效模型出发，有针对地提出了用于检测性能的数据和读写方式，实验证明通过提出的检测方法能够有效地找出潜在的存储器故障，从而能够为嵌入式系统设计人员提供改善系统性能的方法和途径。