宽光谱、高分辨、高速光谱获取和分析技术在光电子材料、太阳能、化学、生物医学、环境、国防等领域具有重要的研究意义和应用价值,是现代光谱分析仪器的核心。为了实现宽光谱、高分辨率和快速的光谱测量和分析,在本研究中,突破传统单光栅和棱镜等色散元件有限色散角和光谱效率的限制,采用二维CCD面阵光电探测技术,将具有不同闪耀角和色散特性的10光栅进行集成组合,在200-1000nm光谱区,获得10重折叠光谱,成像在CCD面阵探测器的焦平面上,从而将光谱的有效探测区长度扩展了10倍,达到268mm。经系统定标后,测量结果显示,无需任何机械位移部件,新的光谱分析系统可达到优于0.1nm的分辨率,能够在0.1s时间内完成200-1000nm全光谱数据的快速获取和分析,将能够在科学研究和高科技领域获得重要应用,体现了高性能光谱分析技术研究和发展的趋势。

在采用面探测器阵列进行三维直接重建CT图像的时候，经常出现大量的线状伪像，对于图像质量和真正缺陷的识别影响很大。这些伪像大多是由投影数据中的随机疵点引起的。文章在雷当域用疵点邻域的均值代替疵点数值的方法来处理CT图像的线状伪像。试验结果证明这种方法简单有效，几乎能去除所有的线状伪像，提高了图像质量，对重建的时间几乎没有影响。