波长色散X荧光光谱仪是检验物质化学成份的传统工具,在各个行业中的应用非常广泛。但是由于晶体衍射强度不够高等问题,一直使波长色散X荧光光谱仪在低含量低原子序数元素的分析方面受到一定的限制。本文全面介绍了近年来以加强晶体衍射强度为目的的新技术,例如全聚焦、半聚焦、对数螺线柱面弯曲晶体衍射技术,和双曲面晶体衍射技术及大面积晶体阵列技术。这些新技术新工艺的出现,使波长色散X荧光光谱仪在低含量低原子序数元素分析性能上有了长足的进步。