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用灰色系统理论修正激光粒度测量的渐晕影响

作者: 魏永杰 葛宝臻 刘颖 来源:光电工程 日期: 2024-04-29 人气:17
用灰色系统理论修正激光粒度测量的渐晕影响
激光粒度测量中,当样品到透镜的轴向距离较大时,由于透镜口径有限,会因渐晕而降低测量的精度和准确度。针对这种问题,应用灰色系统理论事先检验数据,来判断渐晕点位置,然后通过建模对渐晕点后的衍射光能信号进行灰预测,从而修正渐晕的影响。通过对距透镜不同位置处的粒子板进行测量,用灰色系统建模和无模式算法处理数据验证了该方法的有效性。这种方法可以提高距离镜头较远或覆盖范围较大的样品的测量准确度和精度。
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