激光粒度测量中，当样品到透镜的轴向距离较大时，由于透镜口径有限，会因渐晕而降低测量的精度和准确度。针对这种问题，应用灰色系统理论事先检验数据，来判断渐晕点位置，然后通过建模对渐晕点后的衍射光能信号进行灰预测，从而修正渐晕的影响。通过对距透镜不同位置处的粒子板进行测量，用灰色系统建模和无模式算法处理数据验证了该方法的有效性。这种方法可以提高距离镜头较远或覆盖范围较大的样品的测量准确度和精度。

本文采用ALTERA公司Cyclone系列的FPGA芯片和IP核PCI_t32，设计了可应用于LSA系列激光粒度测试仪的数据采集系统，并在FPGA内部实现了系统的控制逻辑和PCI总线接口。该系统利用AD7321可为112路模拟信号提供一个12位采样精度的数据采集通道，系统的数据平均传输速率达到了3Mbps。利用该数据采集系统对标准粒子板的测量结果符合ISO13320标准的要求，这表明该系统满足了设计的要求。