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> 存储测试装置
高g值加速度存储测试装置设计及实现
作者:
何斌
徐锦
杨建
来源:
仪表技术与传感器
日期: 2023-07-22
人气:13
针对高速撞击和跌落等环境试验的离线存储测试需求,从设计灵活性出发,基于混合型SOC单片机,设计了一款高g值加速度存储测试装置。通过硬件电路设计及C8051F340单片机的固件程序设计实现了测试数据的采集及存储功能。基于LabVIEW8.2设计了上位机应用软件实现了测量设置及数据回放及处理功能。经测试验证采集回放波形与激励波形一致。该装置可用于冲击、跌落等离线环境试验测试以及设备校准。
关键词:
高g值加速度
存储测试装置
C8051F340
LabVIEW
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