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同轴数字全息用于粒径测量的影响因素分析

作者: 李志斌 郑刚 章立新 夏飞 来源:光电工程 日期: 2024-03-01 人气:14
同轴数字全息用于粒径测量的影响因素分析
采用同轴数字全息技术测量研究粒子场,其高分辨力的再现像和粒径高精度测量受到诸多因素的影响。本文简要介绍了同轴数字全息的基本概念、原理、方法及其在粒子直径测量中的应用,主要通过计算机仿真研究了记录距离和粒子浓度这两个因素对粒径测量精度的影响,给出了记录距离的范围,同时提出了基于灰度梯度提取粒子边缘进行粒径测量的方法,并通过实验进行了验证。
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