介绍了一种用于全反射法折射率测量的光学系统。面积的限制，采用多光源的光学系统，通过把量程分段，当采用一个光源时，折射率测量的精度和量程受到接收切换不同的光源来选择合适的量程，能在不改变接收端光电传感器的条件下，提高测量精度，扩大量程。本文根据折反射定律，通过分析光路图，给出了此光学系统的结构参数。理论计算和实验结果表明，当采用三个光源时，测量精度或量程比单光源系统提高到三倍左右。