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> 光谱成像仪CCD焦平面
光谱成像仪CCD焦平面组件非均匀性校正技术研究
作者:
薛利军
李自田
李长乐
计忠瑛
崔艳
王忠厚
来源:
光子学报
日期: 2023-06-25
人气:22
分析了光谱成像仪CCD焦平面的非均匀性机理和各种非均匀性校正算法,提出两点多段的非均匀性校正算法,该算法避免了两点校正算法的低准确度和多点校正算法的大运算量.在光谱成像仪上的应用结果表明,两点多段的非均匀性校正算法具有运算量小、准确度高、实用性强的优点.
关键词:
光谱成像仪CCD焦平面
非均匀性
线性校正
两点多段校正法
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